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CHOTEST中圖儀器SJ5800粗糙度輪廓測量儀一體機具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍,分辨率達到0.1nm,一次測量可同時評定粗糙度及輪廓參數(shù),分析評定R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)等微觀粗糙度參數(shù)及倒角、R角、直線度、位置尺寸、角度的宏觀輪廓參數(shù)。適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數(shù)測量,同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數(shù)評價功能,能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業(yè)的測量需求。
用于圓錐滾子軸承表面微觀輪廓Pt及粗糙度測量
SJ5800粗糙度輪廓測量儀一體機同時可廣泛應用于精密機械加工、汽車、軸承、機床、模具、精密五金等行業(yè)。該儀器可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實現(xiàn)一次掃描測量,尤其是大范圍曲面、斜面進行粗糙度檢測,如圓弧面和球面、異型曲面進行多種粗糙度參數(shù)、微觀輪廓度參數(shù)的測量。同時儀器還可對各種精密零件輪廓度、波紋度進行測量,對形狀參數(shù)進行分析。是大曲面測量(軸承、人工關節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、光學鏡片)領域精細粗糙度測量的利器。
產(chǎn)品功能
1.一次測量可同時評定粗糙度及輪廓參數(shù),分析評定R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)等微觀粗糙度參數(shù)及倒角、R角、直線度、位置尺寸、角度的宏觀輪廓參數(shù);
2.表面粗糙度評定: R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數(shù)評定;
3.圓球類零件輪廓及粗糙度參數(shù)測量評定;
4.表面輪廓評定:評定任何點/線間距、兩線夾角、圓弧半徑、直徑等幾何量尺寸參量,并可對輪廓進行直線度、圓度、輪廓度、平行度、位置度、垂直度等分析,重新分析和測量的操作簡潔高效;
5.尺寸標注:半徑、兩圓中心距離、X/Z尺寸、斜邊、兩線夾角、直線相交、直線與圓弧相交、圓弧與圓弧相交、尺寸標注線大小修改、線偏移、局部輪廓放大和調(diào)平等;
6.測量記錄采用集中式數(shù)據(jù)庫管理,可按被測件類型、生產(chǎn)單位、出廠編號、檢測員、送檢單位、設備編號、檢定日期和有效日期等查詢和管理測量記錄;
7.輸出多種格式報表(.doc,.docx,.xlsx,.pdf),并支持自定義報表,定制測量記錄報表,可批量打印記錄表,具有數(shù)據(jù)備份和還原數(shù)據(jù)庫功能;
8.具備自動找拐點功能,能按照程序設置進行X軸自動找拐點;
9.成熟簡單的標定,儀器自帶高精度組合標定臺,可對儀器的精度和測針磨損進行精確補償;
10.可進行DXF(CAD)格式圖紙導入,進行理論圖紙與測量結(jié)果比對分析,可提供直觀圖形對比;
11.可導出坐標點數(shù)據(jù)(.TXT)等格式,可讀取到Excel或者CAD軟件內(nèi)進行數(shù)據(jù)分析及標準輪廓比對;
12.可對多次測量的輪廓曲線匹配后進行分析測量重復性。
高精度、高穩(wěn)定性、高重復性:滿足被測件測量精度要求
1)系統(tǒng)掃描軸采用特殊的超高耐磨材質(zhì)復合材質(zhì)摩擦片,耐磨性能優(yōu)良,穩(wěn)定性高,能保障系統(tǒng)長時間的穩(wěn)定的直線度精度;
2)高精度轉(zhuǎn)軸采用特殊的高剛性、低慣量、超低摩擦系數(shù)的紅寶石轉(zhuǎn)軸系統(tǒng),確保了轉(zhuǎn)動的超高靈敏度及測量精度;
3)超高穩(wěn)定的驅(qū)動設計,確保了驅(qū)動運行過程中不產(chǎn)生任何的振動及干擾,保障了系統(tǒng)掃描運動精度;
4)高精度的納米級光學轉(zhuǎn)軸測量系統(tǒng),保障了儀器超高的分辨率及全程納米級粗糙度測量精度;
5)一體式拔插式碳纖維測桿、高剛性、低慣量,一鍵拔插,特殊設計的高剛性拔插結(jié)構(gòu),無需鎖螺釘,方便快捷、穩(wěn)定可靠;
技術參數(shù)
型號 | SJ5800-100 | ||
輪廓參數(shù) | 測量范圍 | X軸 | 0~100mm |
立柱軸 | 0~300mm | ||
Z軸 | ±6mm(標準測桿)(±12mm:兩倍標準測桿) | ||
分辨率 | X軸:10nm,Z軸:1nm、0.1nm | ||
測量精度 | 角度精度 | ≤0.5’ *備注:精度驗證以測量多面棱體角度為準 | |
Z軸輪廓精度 | ≤±(0.5+0.03Z)μm(H,mm) | ||
標準圓弧Pt精度 | Pt≤0.4μm *備注:25mm以下標準球Pt測試 | ||
標準球測量誤差 | ≤±1μm(R≤10mm),≤±(0.17+R/12)μm(10<R≤200mm) *備注:精度驗證以測量標準球弧度超過90度為準 | ||
移動速度 | X軸 | 0~20mm/s | |
立柱軸 | 0~20mm/s | ||
掃描速度(掃描軸) | 0.05~5mm/s | ||
直線度(掃描軸) | ≤(0.05+1.5L/1000)μm *備注:≤0.2μm/100mm | ||
測量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(電子檔位可調(diào)) | ||
粗糙度參數(shù) | 適用Ra測量范圍 | Ra0.012μm~Ra12.5μm(可選更大范圍) | |
示值誤差 | Ra: ≤±(3nm+2.0%A)(A:測量Ra標稱值) | ||
重復性(1δ) | 1δ≤1nm *備注:0.1-0.2μm方波粗糙度樣塊、標準臺階塊測試 | ||
殘值噪聲 | Rq≤2nm *備注:1納米級粗糙度樣塊、平晶測試 | ||
粗糙度測量參數(shù) | R粗糙度: Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ; Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr; 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo; P輪廓參數(shù): Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax; W波紋度輪廓參數(shù): Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc; Motif參數(shù):R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte; 符合標準: GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002, DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002; | ||
濾波器 | 高斯濾波器、2RC濾波器,相位修正濾波器 | ||
濾波長度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可選 | ||
濾波長度 | λc×3、4、5、6、7、8可選 | ||
儀器尺寸(長×寬×高) | 600×350×850(mm) | ||
儀器總重量 | 約95Kg |
環(huán)境條件
溫度:20±5℃;
相對濕度:10%~80%;
電源/功率:220V,50Hz,≤1.5KW(含電腦及顯示器);
振動:按照三坐標振動要求標準,振動速度均方根≤5um/s,振動頻率8~100Hz;
校準室內(nèi)應無影響測量的灰塵、震動、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強磁場;